专利名称:一种用于测量热障涂层系统表面裂纹扩展速率的原
位装置
专利类型:发明专利
发明人:雷钧,刘世庚,徐艳洁,刘慧,付豪,陈玉玲,王秦申请号:CN201910357103.6申请日:20190429公开号:CN110044948A公开日:20190723
摘要:本发明公开了一种用于测量热障涂层系统表面陶瓷层裂纹扩展速率的原位装置,该装置包括计算机(101)、基体(102)、粘结层(103)、氧化铝薄膜(104)、陶瓷层(105)、加热板(106)、固定板(107)、电阻应变片(108)和采集卡(109);通过该装置保证热障涂层系统表面陶瓷层裂纹扩展速率测量实验过程中可以改变热障涂层系统温度,实时监测裂纹扩展过程中的扩展速率,该装置结构简单,操作方便。
申请人:北京工业大学
地址:100124 北京市朝阳区平乐园100号
国籍:CN
代理机构:北京思海天达知识产权代理有限公司
代理人:沈波
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