一种实现时序测试的方法及装置[发明专利]

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专利名称：一种实现时序测试的方法及装置专利类型：发明专利发明人：李为龙,陈之光申请号：CN201510330900.7申请日：20150615公开号：CN106328211A公开日：20170111

摘要：本发明公开了一种实现时序测试的方法及装置，包括：向上偏拉输出至时序测试的双倍速率同步动态随机存储器(DDR)的标准参考电压，直至DDR异常时，将当前电压值作为最电压值；向下偏拉输出至时序测试的DDR的标准参考电压，直至DDR异常时，将当前电压值作为最电压值；根据最电压值和最电压值，确定DDR是否满足时序测试要求。本发明方法根据最电压值和最电压值在DDR标准参考电压允许变换的范围，反过来确定DDR满足时序测试要求，避免了由于读写分离困难或存在对示波器自带选件和测试人员的业务能力的依赖，以及测试点不易点测的问题对时序测试造成的影响，提高了时序测试的工作效率。

申请人：中兴通讯股份有限公司

地址：518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部

国籍：CN

代理机构：北京安信方达知识产权代理有限公司

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