半导体存储器装置、存储器装置读取程序以及方法[发明专利]

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专利名称：半导体存储器装置、存储器装置读取程序以及方法专利类型：发明专利发明人：矢野胜

申请号：CN201110165627.9申请日：20110620公开号：CN102842336A公开日：20121226

摘要：本发明公开了一种半导体存储器，具有可同时存取的至少二存储器组的存储器单元阵列，根据行位址信息选择字元线的字元线选择电路，以及根据接受到的命令控制字元线选择电路的控制器。控制器，根据第一读取命令使字元线选择电路进行第一读取操作，根据第二读取命令使字元线选择电路进行第二读取操作。第一读取操作系于一侧存储器组选择第n个字元线，于另一侧存储器组选择第n+1个或者第n-1个字元线，第二读取操作系于一侧存储器组选择第n字元线，并且于另一侧存储器组选择第n个字元线。

申请人：华邦电子股份有限公司

地址：中国台湾台中市

国籍：CN

代理机构：北京三友知识产权代理有限公司

代理人：任默闻

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